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粒形分析仪采样分析

发布日期: 2018-11-15
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   粒形分析仪采样分析
  粒形分析仪采用激光光阻技术,不需要任何假设或样品特性,可直接测定微粒的粒度分布(0.1-3600微米)。这种*的分析技术,被称为“Laser Obscuration Time”激光光阻技术(LOT)。
  LOT与其他激光衍射技术相比的主要优势是其较高的分辨率,通过对小范围的检测从而得到更好的测量精度。使用LOT技术主要好处是,即使有任何其他颗粒或介质的物理或化学性质影响,仍得到可靠地测量结果。配套的软件,通过分析计算复杂的多脉冲信号光阻时间,可在几秒钟内得到清楚和精确的颗粒分布测量结果。
  粒形分析仪实时可视化采样,有效地让用户可以轻松地监测样品准备过程或受污染情况,同时也为了避免样品无关的或不必要的组分影响分析结果。
  采用*的激光光阻法进行快速的粒径测量;
  采用复杂的动态图像分析法,地分析颗粒粒形;
  测量结果直接且仅取决于颗粒大小;
  测量结果不受颗粒或介质的物理和光;
  测量结果直接与颗粒大小相关,而非推算出来;
  无需了解样品的折射指数;
  能分析半透明和透明的样品激光和图像通道的结合*地结合了激光光阻法和复杂的动态粒形图像分析技术;
  对球形、非球形及延长颗粒的分析定性;
  可同时测量粒径、形状和浓度多种样品池和光学元件配置可满足不同类型的干法及湿法检测需求;
  测量过程中可实时观察样品颗粒图像。
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