2026年10月28日–30日，第三届上海国际粉体装备与科学仪器展览会（IPIE 2026）将在上海跨国采购会展中心举办。作为专业粒度粒形分析仪制造商，德国新帕泰克（Sympatec）将携激光粒度分析仪HELOS亮相A3013展位，并在展会现场提供测样演示与针对性应用建议。
一、展会信息
| 项目 | 信息 |
| 展会名称 | 上海国际粉体装备与科学仪器展览会（IPIE 2026） |
| 举办时间 | 2026年10月28日–30日（星期三至星期五） |
| 开放时间 | 10月28日、29日 8:30–17:00；10月30日 8:30–15:00 |
| 展会地点 | 上海跨国采购会展中心（上海市普陀区光复西路2739号） |
| 新帕泰克展位 | A3013 |
IPIE 2026展位平面图，新帕泰克展位A3013
二、展台看点一：激光粒度分析仪现场测样
激光粒度仪在医药、电池、增材、粉末冶金与先进陶瓷材料测试中具有突出优势，其测试速度快、分辨率高等特点，使其成为粒度分布研究的理想工具。针对不同应用，激光粒度仪通过模块化组合可适用于干粉、悬浮液、喷雾等不同体系的测试，并提供准确的粒度分布结果，以优化材料性能、改进制造工艺和提高产品质量。
本次展会现场，新帕泰克携激光粒度分析仪HELOS提供现场演示与测样，测试范围0.1–8,750微米，欢迎携带样品现场实测。
激光粒度分析仪 HELOS（可模块化组合RODOS、SUCELL、OASIS等分散系统）
三、展台看点二：更多粒度粒形解决方案现场分享
在粉体材料测试领域，从实验室到工业在线、从0.5 nm到34 mm范围内，德国新帕泰克提供多样化的粒度与粒形解决方案，可为现场观众的实际应用场景提供针对性的建议，帮助进一步优化工艺与产品质量控制。
◆应用1：干法激光粒度仪HELOS&RODOS —— 检测电池回收黑粉的粒度分布
黑粉这类粉体易团聚、怕湿，
干法分散尤为关键——RODOS干法分散模块以压缩空气为动力，不引入液体就把团聚体打散到真实状态再测，避免“假细"或“假粗"的误判，样品量从不足1毫克覆盖到千克级。功能性强、坚固耐用的RODOS干法分散系统可用于低至亚微米级的粉体样品，结合高精度的HELOS激光粒度仪主机系统，测试结果拥有很好的重现性和分辨率，HELOS的高分辨率和灵敏性可轻松辨别微小批次差异。
电池回收黑粉在HELOS&RODOS上连续三次测得的粒度分布（干法分散），三条曲线几乎重合，特征值高度一致
◆应用2：动态粒度粒形分析仪QICPIC&RODOS —— 检测氮化硅陶瓷喷雾造粒粉的粒形分布
QICPIC采用动态图像法，一次可检测上百万个颗粒，结果既有粒径方面的信息如EQPC径、FERET径、Chord径等，还能提供宽长比、圆度、凸度和球形度等形貌参数。下图所示球形度分布，可以轻松看出良莠品之间的粒形分布差异。
成品与不合格品的球形度累积分布对比
除粒度、粒形分布图以及表格报告形式之外，QICPIC的数据处理软件可导出测得的每一个颗粒的清晰图像与其对应的粒径和粒形信息，并且根据录像可直观分析测试过程中颗粒的状态；在颗粒图库中使用过滤功能，还可以鉴别出样品中喷雾造粒过程中未球形化的颗粒。
在颗粒图库中使用过滤功能，可鉴别出样品中喷雾造粒过程中未球形化的颗粒
粒度粒形分布图统计报告，可直观了解样品整体分布情况（氮化硅陶瓷喷雾造粒粉）
应用3：纳米粒度分析仪NANOPHOX —— 检测高浓度树脂溶液的粒度分布
NANOPHOX采用光子交叉相关光谱法（PCCS法）的双光路、双探测器设计，与传统采用光子相关光谱法（PCS法）单光路、单探测器设计的DLS仪器相比，可避免不必要的稀释，直接测试高浓度样品，检测结果不易受杂质的影响。
NANOPHOX测得的高浓度树脂溶液粒度分布（x50约173 nm）
更多应用，欢迎现场垂询。
关于德国新帕泰克（Sympatec）
德国新帕泰克（Sympatec GmbH）创建于1984年，是集研发、制造、销售、技术服务和支持为一体的专业粒度粒形分析仪制造商，为全球用户提供从实验室到工业在线的一系列粒度粒形分析仪。仪器测试范围从0.5 nm到34,000 µm，覆盖激光衍射法、动态图像法、光子交叉相关光谱法、超声衰减法多种测试方法。在医药、电池、增材、粉末冶金与先进陶瓷材料等材料测试领域，新帕泰克的粒度粒形解决方案具有广泛的适用性，已帮助众多用户实现产品质量提升与工艺优化控制。
